000 00367nam a2200133Ia 4500
008 190711s9999 xx 000 0 und d
020 _a0849330572
082 _a621.3815 P437
100 _aPERFLROYZEN, E.
245 0 _aDIGITAL INTEGRATED CIRCUITS:DESIGN-FOR-TEST-USING SIMULINK AND STSTEFLOW
260 _bCRC
_c2007
300 _a320p.,23x15Cms
942 _cBK
_2DDC
999 _c33490
_d33490